专注于测试行业产品和系统的研发与生产
天线测试分近场和远场，其近场测试系统组成包括测量暗室、近场扫描架、测量设备和标准探头等设备。使用特性已知的探头，在距离待测天线3~5λ的平面上进行扫描，测量天线在该平面离散点的幅度与相位分布，通过严格的数学变换确定天线远场辐射区的特性和天线远场方向图。
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